lundi 17 décembre à 15h, amphi B120 (à confirmer). Jean-Marie Nicolas (Telecom ParisTech), présentera ses travaux dans un séminaire intitulé « Lois définies sur R+, application à l’imagerie cohérente ».
Le résumé de cette présentation est le suivant:
Les lois de l’imagerie cohérente sont définies sur R+ et ont une particularité de pouvoir être modélisées avec une paramétrisation mettant en valeur d’une part un facteur d’échelle, et d’autre part des facteurs de forme, ces deux catégories de facteurs étant indépendants. Il existe dans ce cas une approche, les log-statistiques ou statistiques de Mellin, qui est parfaitement adaptée à la notion de bruit multiplicatif. Or effectivement, les lois de l’imagerie cohérente peuvent se voir comme une texture sur laquelle se rajoute du bruit multiplicatif : le chatoiement. Pour un béotien, tout cela peut sembler très compliqué. Aussi, a été développé à Télécom Paristech une plateforme en python~: SARLAB, qui permet de démystifier toutes les lois utilisées et qui permet aussi de se rendre compte qu’il existe une famille de fonctions, les fonctions de Meijer, dont l’écriture simplifie considérablement les comparaisons de toutes les lois utilisées actuellement. L’objectif de ce séminaire est d’une part le rappel du formalisme des log-statistiques appliquées aux lois de l’imagerie cohérente, et d’autre part de montrer l’outil SARLAB qui permet depuis n’importe quel portable ou ordinateur de se familiariser avec ces méthodes.